測量精度
2.5+L/200重復精度
2.5um總放大倍率
18~195X物方視場
8.1~1.3mm工作距離
82mm光柵尺解析度
0.1um
測量精度
2.5+L/200重復精度
2.5um總放大倍率
18~195X物方視場
8.1~1.3mm工作距離
82mm光柵尺解析度
0.1um
測量精度
2.5+L/200重復精度
2.5um總放大倍率
18~195X物方視場
8.1~1.3mm工作距離
82mm光柵尺解析度
0.1um
測量精度
2.5+L/200重復精度
2.5um總放大倍率
18~195X物方視場
8.1~1.3mm工作距離
82mm光柵尺解析度
0.1um
測量精度
2.5+L/200重復精度
2.5um總放大倍率
18~195X物方視場
8.1~1.3mm工作距離
90mm光柵尺解析度
0.5um
測量精度
2.5+L/200重復精度
2.5um總放大倍率
18~195X物方視場
8.1~1.3mm工作距離
90mm光柵尺解析度
0.5um
測量精度
2.5+L/200重復精度
2.5um總放大倍率
18~195X物方視場
8.1~1.3mm工作距離
90mm光柵尺解析度
0.5um
測量精度
2.5+L/200重復精度
2.5um總放大倍率
18~195X物方視場
8.1~1.3mm工作距離
90mm光柵尺解析度
0.5um
測量精度
2.5+L/100重復精度
2.5um總放大倍率
18~195X物方視場
8.1~1.3mm工作距離
90mm光柵尺解析度
0.5um
測量精度
2.5+L/100重復精度
2.5um總放大倍率
18~195X物方視場
8.1~1.3mm工作距離
90mm光柵尺解析度
0.5um
測量精度
2.5+L/100重復精度
2.5um總放大倍率
18~195X物方視場
8.1~1.3mm工作距離
90mm光柵尺解析度
0.5um
測量精度
2.5+L/100重復精度
2.5um總放大倍率
18~195X物方視場
8.1~1.3mm工作距離
90mm光柵尺解析度
0.5um
測量精度
2.5+L/200重復精度
2.5um總放大倍率
25.2~158.4X物方視場
8.1~1.3mm工作距離
90mm光柵尺解析度
0.1um
測量精度
重復精度
總放大倍率
物方視場
工作距離
光柵尺解析度
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新聞資訊
News時間：06-09 2023 來自：祥宇精密
三坐標測量儀和投影儀是兩種常見的測量設備，它們在工業生產中起著重要的作用。雖然這兩種設備都可以用來進行尺寸測量，但它們之間有很多不同之處。
一、原理
三坐標測量儀是一種精密測量儀器，它可以通過三個坐標軸（X、Y、Z）對物體進行測量。其測量原理是利用變形測量法，即在測量過程中對被測物體施加一個小的變形，測量出這個變形量，從而推算出被測物體的尺寸。三坐標測量儀通常具有較高的測量精度，可以達到微米級別。
而投影儀則是一種通過光學原理進行測量的設備。它將被測物體的影像投射到屏幕上，通過調整鏡頭和透鏡，可以得到不同放大倍數的圖像。投影儀通常用于測量平面物體，具有快速、直觀的特點，但是精度相對較低。
二、應用領域
由于三坐標測量儀精度高、測量范圍廣，因此它在機械加工、汽車制造、航空航天等領域得到了廣泛應用。三坐標測量儀可以測量各種形狀的物體，包括曲面和復雜的零件，并且可以進行三維掃描，對于質量檢測、尺寸精度控制等方面都有很好的效果。
而投影儀則主要應用于平面物體的測量。它可以快速地對該物體進行尺寸測量，并進行直觀的圖像展示。投影儀通常用于電子元器件、精密模具、塑料件等行業，可以滿足這些行業對于尺寸的較高要求。
三、優缺點
三坐標測量儀具有高精度、廣測量范圍、適用于不同形狀的物體等優點。但是由于其設備價格比較昂貴，操作難度較大，需要專門的人員進行操作和維護。
投影儀則具有測量速度快、直觀、易于操作等優點，但其精度相對較低，只能應用于某些相對簡單的測量任務。
參考文獻：
1. 三坐標測量儀的優點和缺點及其應用領域[J].制造技術與機床,2017(09):119-121+127.
2. 投影儀在產品測量中的應用[J].質量管理與技術,2020,30(03):80-81.
400-801-9255
聯系人：張小姐
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